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ブルカージャパン ナノ表面計測事業部、台数限定で触針式薄膜段差計の特価・短納期キャンペーンを実施、注文受付期間は～3/20

　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部では、触針式薄膜段差計「Dektak　XTシリーズ」を対象に「年度末にまだ間にあう! 台数限定＆特価・短納期キャンペーン」を実施している。

　2020年3月末納品分までが対象となり、通常3ヵ月納期の製品を短納期で提供する。

　詳細はキャンペーンHP（https://www.bruker-nano.jp/dktcampaign19）で確認できる。

・対象製品
触針式薄膜段差計　Dektak　XTシリーズ

・価格・構成例
　DektakXT-Eの場合：1nm～１mｍ膜厚段差評価が可能、補正値のいらない信頼性の高い評価システム。価格：￥4,980,000~

・注文受付期間：～2020年3月20日迄（注文受付期間）
※仕様により納期が変わるため、詳細は要問合せ

kat 2020年2月7日 (金曜日)

ブルカージャパン ナノ表面計測事業部、3/26に東京でナノインデンテーション試験のセミナーを開催

　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は3月26日、東京都中央区のベルサール八重洲 Room6（https://www.bellesalle.co.jp/shisetsu/tokyo/bs_yaesu/access/）で、「ナノインデンテーションセミナー2020」を開催する。今回は、昭和大学 柴田 陽 教授と横浜国立大学 多々見 純 教授による特別講演を設けている。定員は40名で参加費は無料（事前登録制）。

　問い合わせ先は以下のとおり。
電話：03-3523-6361 ／ Mail : info-nano.bns.jp@bruker.com
WEB登録サイト：https://mbns.bruker.com/acton/media/9063/ni2020 

　プログラムは以下のとおり。

・13:00～13：15　開会挨拶

・13：15～14：15 【特別講演1】「ナノインデンテーション法による生体組織の力学的評価」昭和大学 柴田 陽 教授

・14：15～14：30 休憩 　　　　　　　　

・14：30～15：40 【特別講演2】「マイクロカンチレバー試験片を用いた材料のメソスケール破壊特性評価」横浜国立大学　多々見 純 教授（兼 神奈川県立産業技術総合研究所 「革新的高信頼性セラミックス創製」 プロジェクト　PL）

・15：40～16：30 「ナノインデンテーション実践的アプリケーション事例」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

・16：30～17：10 「電子顕微鏡組込み型ピコインデンターがもたらす複合的ソリューション」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

・17:10～17：30 質疑応答、アンケート

 

ハイジトロントライボインデンターTI980

 

kat 2020年2月7日 (金曜日)