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ブルカージャパン、7月17日、18日に名古屋で表面計測・機械物性計測技術セミナーを開催
ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は7月17日、18日の両日、名古屋市中村区ウインクあいち(愛知県産業労働センター)1303会議室で、最新ナノインデンター/摩擦摩耗試験機/三次元表面形状評価/CMP評価機の実機を見ながら測定技術が一度に学べるセミナー「表面計測・機械物性計測技術セミナー」を開催する。
テーマを「パワー半導体」と「評価技術」とし、各テーマ1日で実施。また、両日ともにセミナー開催前に事前予約制の個別デモを行うほか、参加者が持参したサンプルを用いて装置性能を評価できる。
内容は以下のとおり。
7月17日 テーマ:次世代パワー半導体向け評価技術・12:30~13:00 受付
・13:00~14:00 特別講演「次世代パワー半導体の結晶欠陥評価技術の開発~ナノインデンテーションを活用した欠陥導入と評価の事例~」姚 永昭氏(三重大学 研究基盤推進機構半導体・デジタル未来創造センター 教授)…ワイドギャップ半導体(SiC、GaN、β-Ga2O3など)は、高電力密度や低損失、高温での安定性など、従来の半導体に比べて優れた性能を持ち、近年、これらの材料を利用した次世代のパワーデバイスの研究開発が大きな進展を遂げている。しかしながら、結晶成長が困難で成長後の結晶中に転位等の格子欠陥が高密度に含まれる課題は未だに残る。格子欠陥の分布と種別を正確に取得した上で、デバイスの性能と信頼性を大きく低下させるキラー欠陥を特定し、その情報を結晶成長とデバイス作製にフィードバックすることが極めて重要である。本講演では、これらのワイドギャップ半導体の結晶評価技術の開発に焦点を当て、従来の評価手法の限界と課題を解説し、新たな手法開発の取り組みとして、放射光X線トポグラフィーをはじめ、エッチピット法、透過型電子顕微鏡(TEM)、多光子励起顕微鏡、ナノインデンテーションを活用した導入欠陥の構造解析の事例を紹介する。
・14:00~14:20 「半導体分野で活用されるナノインデンター活用事例」二軒谷 亮氏(ブルカージャパン ナノ表面計測事業部)
・14:20~14:40 「半導体分野で活用される非接触光干渉計の活用事例」秋本壮一氏(ブルカージャパン ナノ表面計測事業部)
・14:40~15:00 「卓上CMP評価機を用いたスクリーニング評価事例」塚本和己氏(ブルカージャパン ナノ表面計測事業部)
・15:30~16:30 装置デモンストレーション (各20分)
① ハイジトロン ナノインデンター TI Premier
② 3次元白色干渉型顕微鏡 ContourX-500
③ 卓上CMP評価機 TriboLab CMP
当日の詳細と申し込みは以下まで。
https://web.gogo.jp/braker-axs/form/nagoyaws
7月18日 テーマ:最新ナノインデンター/トライボロジー評価/白色干渉計 評価技術の原理・事例・解析手法・成功のヒント・装置実演
・12:30~13:00 受付
・13:00~14:00 特別講演 「次世代パワー半導体の結晶欠陥評価技術の開発~ナノインデンテーションを活用した欠陥導入と評価の事例~」姚 永昭氏(三重大学 研究基盤推進機構 半導体・デジタル未来創造センター 教授)…ワイドギャップ半導体(SiC、GaN、β-Ga2O3など)は、高電力密度や低損失、高温での安定性など、従来の半導体に比べて優れた性能を持ち、近年、これらの材料を利用した次世代のパワーデバイスの研究開発が大きな進展を遂げている。しかしながら、結晶成長が困難で成長後の結晶中に転位等の格子欠陥が高密度に含まれる課題は未だに残る。格子欠陥の分布と種別を正確に取得した上で、デバイスの性能と信頼性を大きく低下させるキラー欠陥を特定し、その情報を結晶成長とデバイス作製にフィードバックすることが極めて重要である。本講演では、これらのワイドギャップ半導体の結晶評価技術の開発に焦点を当て、従来の評価手法の限界と課題を解説し、新たな手法開発の取り組みとして、放射光X線トポグラフィーをはじめ、エッチピット法、透過型電子顕微鏡(TEM)、多光子励起顕微鏡、ナノインデンテーションを活用した導入欠陥の構造解析の事例を紹介する。
・14:00~14:20 「半導体分野で活用されるナノインデンター活用事例 」二軒谷 亮氏(ブルカージャパン ナノ表面計測事業部)
・14:20~14:40 「半導体分野で活用される非接触光干渉計の活用事例」秋本壮一氏(ブルカージャパン ナノ表面計測事業部)
・14:40~15:00 「卓上CMP評価機を用いたスクリーニング評価事例」塚本和己氏(ブルカージャパン ナノ表面計測事業部)
・15:30~16:30 装置デモンストレーション (各20分)
① ハイジトロン ナノインデンター TI Premier
② 3次元白色干渉型顕微鏡 ContourX-500
③ 卓上CMP評価機 TriboLab CMP
当日の詳細と申し込みは以下まで。
https://web.gogo.jp/braker-axs/form/nagoyaws0718
日本熱処理技術協会、12月2日、3日、2024年度第3回熱処理技術セミナーを開催
日本熱処理技術協会は12月2日、3日の両日、対面参加(定員:30名、製粉会館:東京都中央区日本橋兜町15-6)およびオンライン参加からなるハイブリッド形式により、「2024年度 第3 回熱処理技術セミナー-熱処理基礎講座Ⅱ-」を開催する。
第3回熱処理技術セミナーでは、浸炭・窒化・高周波といった代表的な表面硬化熱処理技術を中心に、これらの熱処理とは不可分な金属学的現象への解説を加えて、熱処理技術を中心に据えた基礎講座プログラムで構成されている。本セミナーは、企業における人材育成に最適なプログラムとなっている。
申込締切は11月21日(または定員に達した場合)で、以下のURLまたはQRコードから申し込みができる。参加費は正会員46200円(税込)、維持会員46200円(税込)、非会員68200円(税込)、高専、大学、大学院に所属する学生会員および非会員に適用される学生価格は9900円(税込)。
https://forms.office.com/r/dEHGcuL7mF
内容は以下のとおり。
12月2日
・9:55~10:00「開会挨拶および注意事項」日本熱処理技術協会
・10:00~11:30「鋼の焼入性と合金元素~合金鋼の焼入焼戻しを知る基礎知識~」梅澤 修氏(横浜国立大学)…本講演では、鋼の等温(恒温)変態線図および連続冷却変態線図、焼入性について概説の上、鋼の焼入性に及ぼす炭素量および合金元素の影響、焼入・焼戻しによる強化との組織学的関係について述べる。
・12:30~14:00「拡散~鋼の熱処理における拡散現象の基礎的理解~」中田伸生氏(東京工業大学)…本講演では、熱処理、表面処理において拡散は重要な現象である。本講義では、金属を対象とした物質の拡散について概説する。特に気/固界面や相変態を含む複相間での拡散を理解するため、化学ポテンシャル勾配による拡散を理解することを目的とする。
・14:10~15:40「残留オーステナイト~形成機構と有効利用技術~」土山聡宏氏(九州大学)…本講演では、焼入れした鋼中に生成する残留オーステナイトについて、その生成機構や生成量に及ぼす鋼組成と熱処理条件の影響について述べる。また、残留オーステナイトの有効利用を目的とした最近の研究についても紹介する。
・15:50~17:20「表面硬化熱処理の基礎~表面硬化熱処理の必要性・効果・注意点~」奥宮正洋氏(豊田工業大学)…本講演では、機械構造用部品に用いられる鋼を加熱してオーステナイト組織とし、炭素または窒素を侵入させた後に焼入れして機械的性質を向上させる表面硬化熱処理に関する硬化メカニズム、得られる組織、雰囲気管理方法等について基礎的な解説を行う。
12月3日
・10:00~11:30「金属の高温酸化~熱力学と速度論の観点から,金属材料の表面酸化を理解する~」上田光敏氏(北海道大学)…本講演では、金属の高温酸化現象を概観するとともに、酸化現象を理解する上で重要となる平衡論(金属酸化物の化学的安定性)と速度論(酸化皮膜の成長とイオンの拡散)について概説する。
・12:30~14:00「鉄鋼材料の窒化・浸窒処理~表面組織制御の考え方~」宮本吾郎氏(東北大学)…窒化処理や浸窒焼入れ処理によって適切な表面特性を得るためには、表層組織の制御が欠かせない。本講演では、組織制御に必要となる状態図・熱力学や拡散、化合物層、拡散層生成挙動と表面硬化の関係について概説する。
・14:10~15:40「鉄鋼材料の高強度化と変形・破壊の基礎~転位論に基づく強度上昇メカニズム~」田中將己氏(九州大学)…本講演では、材料の破壊現象について、塑性変形をほとんど伴わない脆性破壊から塑性変形を伴う延性破壊について、その特徴を材料学的な見地に立ってその解説を行う。特に塑性変形(転位運動)挙動の温度依存性に着目する。
・15:50~17:20「高周波熱処理~IH 熱処理の特徴と応用~」井戸原 修氏(高周波熱錬)…高周波熱処理は急速短時間加熱、表面加熱、部分加熱を特徴とし、自動車部品など機械構造用部品の熱処理の熱処理方法として幅広く用いられている。本講演では、この高周波熱処理技術の基礎と特徴、応用について解説する。
kat 2024年6月26日 (水曜日)