日本電子( http://www.jeol.co.jp/ )は、光学顕微鏡・走査電子顕微鏡連携システム「Mixcroscopy」の販売を開始した。
同品は、光学顕微鏡と走査電子顕微鏡の試料ホルダを共通化し、ステージ情報を専用のソフトウェアで管理することにより、光学顕微鏡で観察した箇所をシステムに記憶させ、同一視野を走査電子顕微鏡でさらに拡大して微細構造観察ができる。
この開発により、光学顕微鏡で観察した像を見逃すことなく、シームレスに走査電子顕微鏡で観察することが可能となり、光学顕微鏡像と走査電子顕微鏡像との比較検証がよりスムーズで容易にできるようになったという。
近年バイオ研究や材料開発において、光学顕微鏡と走査電子顕微鏡(SEM)のそれぞれで得た情報を相関させ、より多方面から微細構造の解析を行うニーズが高まっている。そのニーズに応えるため、電子顕微鏡メーカーである日本電子は、大手光学顕微鏡メーカーであるニコンと協業し、同品を開発した。
観察試料:桜の花粉