測定計測展、TEST2013など開催、表面試験・評価機器などを展示

展示会のもよう　日本光学測定機工業会と日本精密測定機器工業会の主催による測定をはじめとした計測全般に関する総合展示会「測定計測展／Measuring Technology Expo 2013」、日本試験機工業会主催による試験機の専門展示会「TEST2013 第12回総合試験機器展」など五つの展示会が9月25～27日、東京・有明の東京ビックサイト東5・6ホールで同時開催された。これら展示会では、表面改質の試験・評価などで使用される機器をはじめ、その他関連製品などの展示も行われた。

　「測定計測展」では、パルメソやレニショーなどのメーカーが展示を行ったほか、光計測シンポジウム2013が行われ、佐藤慶一氏（キヤノンマーケティングジャパン）「表面性状計測のための走査型白色干渉計の新展開」、本田 裕氏（小坂研究所）「ハイブリッド微細形状測定機～表面性状計測の可能性を無限にする接触・非接触の融合～」、藤井章弘氏（オリンパス）「光学式の表面性状測定機を対象としたFDTD法による基本形状に対する応答解析」などの講演が行われた。

　「TEST2013」では、ミツトヨがマイクロビッカース硬さ試験機、ロックウェル硬さ試験機、ポータブル硬度計等を出展した。このほか新東科学は摩擦摩耗試験機、フィッシャーインストルメンツがナノインデンターを提案するなど、表面改質の試験・評価で使用される機器の展示が見られた。また、山本科学工具研究社は、試験機の正確性、安定性および再現性の確認等などに欠かせない高精度硬さ基準片、顕微鏡組織標準片、火花試験標準片など、名古屋科学機器が熱処理の温度制御機構で使用される熱電対の紹介を行うなど、表面改質の周辺技術についても提案がなされた。